今天本原纳米仪器的小编给大家介绍的是关于磁力显微镜的相关知识，希望通过下述的介绍能给大家带来帮助，那么接下来就跟着小编一起看下吧。

　　磁力显微镜(MFM)选用的是磁性探针对样品表面扫描检测，检测的时候，对样品表面的每一行都进行两次扫描：第一次扫描选用的是轻敲模式，得到样品在这一行的高低起伏然后记录下来；随后选择的是抬起模式，让磁性探针抬起一定的高度(一般在十至两百纳米之间)，并且按照样品表面起伏轨迹进行第二次扫描，因为探针被抬起并且按照样品表面起伏轨迹扫描，所以在第二次扫描过程当中针尖不接触样品表面（不存在针尖和样品间原子的短程斥力）并且和它保持恒定距离（消除了样品表面形貌的影响），磁性探针由于受到的长程磁力的作用从而引起的振幅与相位变化。所以，将第二次扫描中探针的振幅还有相位变化记录下来，就可以得到样品表面漏磁场的精细梯度，然后知道样品的磁畴结构。一通常来讲，相对于磁性探针的振幅，它的振动相位对样品表面磁场变化更加敏感。所以，相移成像技术是磁力显微镜的重要方法，它的结果分辨率更高、细节也更加丰富。

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