SPM Console在线控制软件

• 兼容Windows 11/10/8/7/Vista/XP/NT/2000/ME/9x全系列操作系统
• 支持原子力显微镜（AFM）(包括接触/轻敲/相移成像/抬起模式)、横向力/摩擦力显微镜（LFM）、导电原子力显微镜（C-AFM）、磁力显微镜（MFM）、静电力显微镜（EFM）、力调制模式（FMM）、压电响应力显微镜（PFM）、扫描开尔文探针显微镜（SKPM）、扫描探针声学显微镜（SPAM）、扫描隧道显微镜（STM）等功能
• 具有距离曲线（Force Curve）、振幅/距离曲线（Amplitude Curve）悬臂共振特性曲线（Q Curve）、相位曲线（Phase Curve）、电流偏压曲线（I/V）、电流距离曲线（I/Z）测量分析
• 具有扫描隧道显微镜（STM）表面电流密度测量分析
• 系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制
• 还具备实时三维显示功能，扫描检测过程中实时同步显示样品表面直观的三维形貌，无需事后用处理软件进行三维重建
• 具备实时定量分析功能，用户可在扫描测试进程中，即时对图像进行定量分析，如通过指定剖面线随时获得样品起伏、距离、周期等结构参数
• 全部工作环境参数与检测结果同步保存，用户对图像进行分析处理时可查看完整的工作条件和参数
• 扫描图像亮度、对比度调整后，自动整体刷新
• 多种样品倾斜度实时校正功能
• 软件控制样品向指定方向移动一步或多步，精度达每步100nm
• 方便的鼠标控制扫描区域平移、剪切功能
• 具有数据导出功能，用户可取得原始数据
• 支持双显示器操作界面，方便进行参数调整及图像观测
• 支持图形刻蚀和矢量扫描模式的纳米加工技术
• 具备超媒体用户界面的纳米操纵接口

具备实时三维显示功能，可在样品检测过程中实时同步显示样品表面直观的三维形貌，无需在检测完成再借助数据处理软件进行三维重建

具备实时定量分析功能，用户可在扫描测试进程中，即时对图像进行定量分析，如通过指定剖面线随时获得样品起伏、距离、周期等结构参数，用户能在检测过程中即时获得样品定量数据，无需在检测完成再借助数据处理软件进行分析

用户可以通过TCP/IP网络，在本地计算机或远程计算机上运行本软件，实现对仪器的实时控制

软件具有在线实时的原子力显微镜操作多媒体帮助

自带功能强大的矢量扫描脚本编译器，用户可以方便灵活的对探针行为进行直接操控

无需重启系统或退出软件，用户在操作过程中可随时在多语言版本间自由切换