环境检测及控制扫描探针显微镜
CSPM5500环境检测及控制扫描探针显微镜的探头结构如下图所示：
环境控制扫描探针显微镜探头结构示意图
本系统具备如下特点:
- 合金气密罩体，有效隔离外界扰动
- O型丁氰橡胶密封圈，保证系统的良好密封性能
- 大口径石英顶视窗，提供监控窗口，并可满足样品宽光谱辐射处理
- 内置亮度连续可调的照明光源，方便实时过程观察
- 进-排气孔设计，随时调节和改变环境
CSPM5500系列扫描探针显微镜(SPM)通过增加气密系统，实现环境控制扫描探针显微镜功能，探头正上方预留有大口径石英顶视窗，方便用户对“样品-探针”进行直接观察，也可配合光学显微镜系统进行监控。由于石英玻璃对紫外波段具有良好的透过率，因此，也可满足用户对特殊样品进行宽光谱辐射处理或谱学测试的需求。
石英玻璃顶视窗
CSPM5500扫描探针显微镜探头内置温湿度传感器，可检测实验环境的温度及湿度，并在探头底座的数字表上实时显示。
温度及湿度检测技术参数表
CSPM5500扫描探针显微镜通过增加加热系统（由样品加热台和控制器构成），可实现在检测前或检测过程中实时控制样品温度。
加热系统具备如下特点:
- 低温度系数合金的加热台主体，有效抑制热漂
- 内置发热体和温度传感器，实现温度精确控制
- 磁吸直接固定于扫描器上，装卸简便
加热台结构图
加热台参数表
