AFM原子力显微镜共有三种不同的工作模式，接触模式，非接触模式，以及共振模式或者轻敲模式。今天小编主要为大家介绍下接触模式。
     接触模式包括恒力模式和恒高模式。在恒力模式中过反馈线圈调节微悬臂的偏转程度不变，从而保证样品与针尖之间的作用力恒定，当沿着X，Y轴方向扫描的时候，记录Z方向上扫描器的移动情况来得到样品的表面轮廓形貌图像。这种模式由于可以通过改变样品的上下高度来调节针尖与样品表面之间的距离，这样样品的高度值较为准确，适用于物质的表面分析。在恒高模式中，保持样品和针尖的相对高度不变，直接测量出微悬臂的偏转情况，即扫描器在Z方向上的移动情况来获得图像。这种模式对样品的高度变化比较敏感，可以实现样品的快速扫描，适用于对分子，原子的图像观察。接触模式的特点是探针与样品表面紧密接触并在表面上滑动。探针和样品间的相互作用力是两者相接触原子间的排斥力，接触模式通常就是靠这种排斥力来获得稳定，高分辨样品表面形貌图像。但是由于针尖在样品表面上滑动及样品表面与针尖的粘附力，可能使得针尖受到损害，样品产生变形，故对不易变形的低弹性样品存在缺点。
     以上就是今天小编为大家介绍的AFM原子力显微镜工作模式中的接触模式，希望能给大家带来一些帮助，想要了解更多AFM原子力显微镜的信息，请关注我们本原的官方网站。